光面、波纹两种取样法，平均与最薄双判据，印字处怎么算
护套厚度最常见的不合格形态是“平均值够、最薄点不够”：偏心或局部拉薄的护套，平均下来达标，但最薄点低于下限照样判不合格。下限按最薄点 ≥ 0.85tn−0.1mm 计算（绝缘相应为 0.9tn−0.1mm），平均值要求 ≥ tn，两条同时满足。
算例：标称厚度 tn=1.8mm 的挤包护套，最薄点下限 = 0.85×1.8−0.1 = 1.43mm，平均值要求 ≥1.80mm。实测 6 点：1.85、1.82、1.80、1.78、1.76、1.44——平均 1.74mm 已低于标称，最薄 1.44mm 贴着下限，按“平均值偏薄”处置，查配模与线速而不是只盯着那个最薄点。
读数记到 0.01mm，平均值按四舍六入五留双修约到 0.01mm；判据按产品标准执行，薄型护套、无卤低烟等特殊要求另有规定时以产品标准为准。站内厚度判定器可贴一组数据自动算双判据并标红超差点。
纵向规则表面指内外表面平滑、厚度沿轴向基本均匀的常规挤包护套。取样：去除护套内外所有附属材料后，用锋利刀片沿垂直于电缆轴线的平面切取薄片，切歪了截面成椭圆，厚度虚大，误判合格。
测量：试片置于读数显微镜或投影仪工作面，切割面与光轴垂直，内侧为圆形时按径向放射状测 6 点、每点间隔约 60°；内侧有绝缘线芯压出的深凹槽，在各凹槽底部径向测量，凹槽超过 6 个时按不规则内表面处理，在最薄处放射状测 6 点。
印字处规则最容易搞错，分两条：护套上有压印标记凹痕时，试件必须取包含印字的那片——印字处是真实存在的最薄弱点，最薄点判定要含它；但计算平均厚度时压痕处数据不计入，应在无压痕处另制一个试片测平均值。最薄点结果取两个试片中的最小值。一个考核底线、一个评估整体，两条各管各的。
皱纹铝套、皱纹钢套外的护套内表面呈波浪形，横截面一个圆测不出最薄点——最薄位置随波峰波谷沿轴向变化，所以取样思路换成“沿轴向扫一个完整周期”。
操作：避开端部变形受损段、在距端部足够远处截取至少包含两个波峰、两个波谷的成品电缆试样（另一取样口径为至少一个完整节距或护套下带材的一个螺旋），在护套外表面平行轴向画一条参照线定位。两条路线二选一：
路线一（球形测头千分尺）：用球形测头千分尺直接在该段护套圆环上多点测量找最薄，测头半径要小于波纹半径、能坐进波谷不架桥，读数到 0.01mm。路线二（显微镜/投影仪）：平行于电缆轴向切取 6 个窄条薄片，逐条测量整个波纹周期内的厚度分布，找到整个周期里的绝对最薄点，最薄处定位就靠那条轴向参照线。
| 对比项 | 纵向规则表面（光面） | 纵向不规则表面（波纹） |
|---|---|---|
| 典型对象 | 常规圆形缆芯上的挤包护套 | 皱纹金属套外的护套、异形缆芯包套 |
| 取样 | 垂直轴线切横截面薄片 | 避开端部变形段取样，含两个波峰两个波谷或一个完整节距 |
| 测点 | 圆周约60°放射状6点，凹槽在槽底测 | 圆环多点找最薄，或6条纵向窄条全周期扫最薄 |
| 专用量具 | 读数显微镜、投影仪 | 球形测头千分尺（测头半径须小于波纹半径） |
| 最薄点位置 | 在横截面圆周上找 | 沿轴向随波纹变化，须扫完整周期 |
标准明确规定取样应包含压印标记凹痕，印字处减薄计入最薄点判定，所以“印字压深了导致最薄点不合格”在标准层面申诉空间很小——印字减薄量本应由企业工艺自行消化，把印字深度纳入工艺卡控制。但要分清两条：最薄点判定含印字处，而平均厚度计算不含压痕数据，须在无压痕处另取试片测量。若怀疑检测操作不规范，可按程序就检验方法提出异议。
端部在生产、搬运中容易被拉伸、挤压或进水，护套厚度与形状可能已发生变化，不能代表整盘电缆的正常质量。取样要避开端部变形受损段，向内取到能覆盖两个波峰和两个波谷（或一个完整节距）的试样，保证测到整个波纹周期内的最薄点。随意在端头切一小段测量，数据没有代表性。
把标称厚度代入：tn=1.8mm 时下限 = 0.85×1.8−0.1 = 1.43mm；tn=2.3mm 时 = 1.855mm，修约后按 0.01mm 判。该式是护套的最薄点下限，绝缘是 0.9tn−0.1，两套系数别混。任何一点实测值低于下限即不合格，与平均值是否达标无关；产品标准另有规定时按产品标准执行。
用读数显微镜。它是标准指定的基准测量方法：光学非接触测量没有压力变形误差，读数精度 0.01mm，0.5mm 以下的薄护套可估读到 0.001mm。日常可用投影仪、球形测头千分尺，但结果不一致时以读数显微镜为准。仲裁前先规范制样——垂直切薄片、切面光洁，制样不当的争议测了也白测。
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